[发明专利]一种惰性气体保护下的HEM晶体生长方法有效
申请号: | 201310080414.5 | 申请日: | 2013-03-12 |
公开(公告)号: | CN103173855A | 公开(公告)日: | 2013-06-26 |
发明(设计)人: | 季泳;张龚磊 | 申请(专利权)人: | 贵阳嘉瑜光电科技咨询中心 |
主分类号: | C30B27/00 | 分类号: | C30B27/00;C30B29/20 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 谷庆红 |
地址: | 550004 贵州省贵*** | 国省代码: | 贵州;52 |
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摘要: | 本发明公开了一种惰性气体保护下的HEM晶体生长方法,它包含以下步骤:(1)将晶体放入晶体生长炉内;(2)密封晶体生长炉内并进行真空处理直至炉内真空度达到5-10毫托;(3)往晶体生长炉中缓慢充入HE和AR的体积比为1:1.5-3的HE-AR惰性混合气体排杂;(4)采用加热器对晶体生长炉开始加热,进行HEM晶体生长,炉内温度始终不低于2000℃,在晶体生长过程中,持续充入HE-AR惰性混合气体直至晶体生长完成。本发明的有益效果是:利用HE-AR惰性混合气体实现了HEM晶体生长,晶体的生长效果好,规避了国际上氦气供应的问题,同时节约了生产成本,减少了采购风险。 | ||
搜索关键词: | 一种 惰性气体 保护 hem 晶体生长 方法 | ||
【主权项】:
一种惰性气体保护下的HEM晶体生长方法,其特征在于:它包含以下步骤:(1)、将晶体放入晶体生长炉内;(2)、密封晶体生长炉内并进行真空处理直至炉内真空度达到5‑10毫托;(3)、往晶体生长炉中缓慢充入HE和AR的体积比为1:1.5‑3的HE‑AR惰性混合气体排杂;(4)、采用加热器对晶体生长炉开始加热,进行HEM晶体生长,炉内温度始终不低于2000℃,在晶体生长过程中,持续充入HE‑AR惰性混合气体直至晶体生长完成。
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