[发明专利]MCU的测试方法和系统有效
| 申请号： | 201310073380.7 | 申请日： | 2013-03-07 |
| 公开（公告）号： | CN104035023A | 公开（公告）日： | 2014-09-10 |
| 发明（设计）人： | 朱龙钦 | 申请（专利权）人： | 上海宏测半导体科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181 |
| 代理公司： | 上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 | 代理人： | 成丽杰 |
| 地址： | 201114 上海市闵行区浦江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路测试领域，公开了一种MCU的测试方法和系统。本发明中，对通过开短路测试的MCU，在没有烧写频率时，进入IRC测试模式，进行频率校准，执行测试矢量之后，用TMU测试测量频率输出端（P12）的频率，根据测得的频率算出MM值；接着，将VDD、VPP和VIH的电压调整到5伏，将根据频率输出端测得的频率算出的MM值代入测试矢量，执行测试矢量之后，测量频率输出端的频率；并在测得的频率不在预设的门限内时，判定MCU为不合格。通过IRC频率校验和烧写，对MCU的输出频率进行微调，从而确保频率校准无误，MCU的功能全部正常。 | ||
| 搜索关键词： | mcu 测试 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种MCU的测试方法，其特征在于，包含以下步骤：A．根据MCU的测试原理，做好测试前准备，包含：编辑测试程序；其中，所述测试程序中穷举所有的功能，生成测试矢量；B．执行测试矢量，对MCU芯片的各个管脚进行开短路测试；C．对通过所述开短路测试的MCU芯片，如果没有烧写过频率，则进入内置RC振荡（IRC）测试模式，进行频率校准，执行测试矢量之后，用TMU测试测量频率输出端（P12）的频率，根据所述测得的频率算出校验（MM）值；其中，所述测试矢量中包含所述MM值；D．将电源电压（VDD）、高压引脚电压（VPP）和输入高电压（VIH）的电压调整到5伏，将根据所述频率输出端测得的频率算出的MM值代入测试矢量，执行所述测试矢量之后，测量所述频率输出端的频率；如果测得的频率不在预设的门限内，则判定所述MCU为不合格。
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