[发明专利]快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路

摘要

本发明披露了一种用于快速检验像素驱动电路驱动管阈值补偿效果的测试电路，测试电路作为一个基准电路，依次接入三个电流源，分别得到三个反馈电压值，可以计算出测试电路中驱动管的阈值电压，通过均匀改变测试电路驱动管衬底电压进行相同的计算可以得出驱动管的阈值电压和其衬底电压的关系曲线。基于该关系曲线，再通过定量改变像素驱动点阵中像素驱动电路中驱动管的衬底电压来以改变阈值电压值，并测量像素驱动电路中OLED亮度，多次测试后得到像素驱动电路OLED亮度随着其驱动管阈值电压变化的曲线图，根据曲线图判断像素驱动电路是否具有补偿作用。

主权项

1.一种快速检测像素驱动电路驱动管老化补偿的检测方法，使用的测试电路模块，其特征在于：测试电路输入端口分别是电流源开关SW1、电流源开关SW2、电流源开关SW3、衬底电压开关SW4、扫描信号SCAN、衬底电压端口，输出为反馈电压；电路由PMOS晶体管T1、T2、M1、M2、M3和M4、电容C和三个电流源S1、S2和S3组成；电流源S1的电流大小为，是能驱动OLED最大发光亮度的电流，S1和M1的漏极相连；电流源S2的电流大小为，m是大于1的常数，S2和M2的漏极相连；电流源S3的电流大小为，n是不等于m且大于1的常数，S3和M3的漏极相连；M1的栅极与电流源开关SW1相连，M1的源极和反馈电压相连；M2的栅极与电流源开关SW2相连，M2的源极和反馈电压端口相连；M3的栅极与电流源开关SW3相连，M3的源极和反馈电压相连；T1的栅极和扫描信号SCAN相连，T1的源极和反馈电压相连，T1的漏极与T2管的栅极、漏极以及电容C的端口2相连；T2的源极与电容C的端口1还有电源相连，T2的衬底与M4的漏极相连；M4的栅极和衬底电压开关SW4端口相连，M4的漏极和衬底电压相连。