[发明专利]一种铜矿石中铜含量的X射线荧光光谱分析方法

摘要

本发明涉及一种铜矿石中铜含量的X射线荧光光谱分析方法，即一种利用固化剂制备分析样片的方法，可应用于铜矿石中铜含量的测定，能够对铜矿石中铜含量进行快速分析，满足进出口铜矿石和铜冶炼过程控制要求。本发明提供一种基于固化制样的铜矿石中铜含量的X射线荧光光谱分析技术，方法快速、准确，能够实现日常铜矿石中铜含量检验的需要，本发明处理效率高，社会效益明显。

主权项

一种铜矿石中铜含量的X射线荧光光谱分析方法，包括如下步骤：1）标准曲线的建立称取铜矿石标准物质，按质量体积比为2～10%将标准物质加入到盐酸中反应，再加入硝酸进行反应至样品完全分解，获得分解溶液；再将分解溶液加热蒸发得到结晶盐;将结晶盐用水溶解，调节溶液pH值为3～4，再加入固化剂溶解，将溶液加热至沸腾，再冷却凝固全变为薄片，所得薄片即为X射线荧光光谱分析用的标准样片； 将样片配以垫片后，利用X射线荧光光谱仪分析标准样片的CuKα1谱线强度，采用变化α系数进行基体校正，建立标准物质的铜质量‑强度校准曲线；2）待测样品的分析 按照步骤1）的方法获得待测样品的X射线荧光光谱分析用的样片，将样片配以垫片后，利用X射线荧光光谱仪分析待测样品样片的CuKα1谱线强度，采用变化α系数进行基体校正；3）待测样品铜含量的计算将步骤2）测得的待测样品样片的CuKα1谱线强度代入标准物质的铜质量‑强度校准曲线，按公式(1)计算出待测样品的铜含量：  Cu(%)=(a·I校+b)·10/m×100           (1)其中，a: 校准曲线斜率；b: 校准曲线截距；I校: CuKα1校正后谱线强度Kcps；m: 待测样品称样量。