[发明专利]存储器、修复系统与其测试方法无效

专利信息
申请号: 201310062173.1 申请日: 2007-09-04
公开(公告)号: CN103177770A 公开(公告)日: 2013-06-26
发明(设计)人: 廖惇雨;陈宗申 申请(专利权)人: 旺宏电子股份有限公司
主分类号: G11C29/42 分类号: G11C29/42;G11C29/44;G06F11/10
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 史新宏
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 一种存储器,包括一存储器阵列、一错误校正码(Error correct code,ECC)单元与一比较器。存储器阵列包括至少一存储单元。存储单元被写入并存储至少一原始数据。错误校正码单元用以由存储单元读取出至少一测试数据。若测试数据中出现一错误,错误校正码单元即校正测试数据。错误校正码单元并据以输出至少一错误校正数据。比较器用以决定原始数据是否与错误校正数据相同,并输出一输出信号来指示存储单元为测试成功或测试失败。
搜索关键词: 存储器 修复 系统 与其 测试 方法
【主权项】:
一种存储器,包括:一存储器阵列,包括至少一存储单元,该至少一存储单元被写入至少一原始数据;一错误校正码单元,用以由该至少一存储单元读取至少一测试数据,当一错误出现于该至少一测试数据时,校正该至少一测试数据,并据以输出至少一错误校正数据;以及一比较器,用以从该存储器中取得该未经写入至该存储器阵列的至少一原始数据,并决定该至少一原始数据与该至少一错误校正数据是否相同,并输出一输出信号,该输出信号表示该至少一存储单元为测试成功或测试失败。
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