[发明专利]校正包括阻性辐射热计阵列的探测器的漂移的方法和设备

摘要

公开了一种用于校正包括阻性成像辐射热计阵列的红外辐射探测器的漂移的方法和实现这种方法的设备。该方法通过校正辐射热计网膜的辐射热计探测器的阻抗性辐射热计的效应离差来校正增益表。该方法包括从对应于基本上温度均匀的场景的网膜获取读取信号；根据关系式计算校正表g；以及根据关系式校正增益表；其中(i,j)表示网膜和表中的辐射热计的坐标；Gref和Gshut分别是校正之前和校正之后的增益表；Rac_shut(i,j)和Rac_ref(i,j)是在获取信号时和在先前时间时辐射热计(i,j)的阻抗值；TCRshut(i,j)和TCRref(i,j)是在获取信号时和在先前时间时辐射热计(i,j)的温度变化系数值；N是用于归一化增益表Gshut的标量因数。

主权项

一种用于检测红外辐射的方法，包括：■借助于悬置于辐射热计探测器的基底上方的阻抗性辐射热计网膜的阻抗性辐射热计来获取所述红外辐射，从而产生由所述辐射热计提供的原始读取信号；■使用增益表来校正原始信号中的阻抗性辐射热计的响应离差，所述增益表的每个增益与所述阻抗性辐射热计网膜的辐射热计相关联，其中，所述方法包括对所述增益表的校正，所述校正包括：■从对应于温度均匀的场景的所述阻抗性辐射热计网膜获取读取信号；■根据如下关系式，根据所获取的读取信号计算用于校正增益表的表g：g(i,j)=Rac_shut(i,j)Rac_ref(i,j).TCRref(i,j)TCRshut(i,j)]]>■以及根据如下关系式校正增益表：Gshut(i,j)=g(i,j).Gref(i,j)N]]>其中：■(i,j)表示所述阻抗性辐射热计网膜和所述表中的辐射热计的坐标；■Gref和Gshut分别是校正之前的增益表和被校正的增益表；■Rac_shut(i,j)是获取所述读取信号时坐标为(i,j)的辐射热计的阻抗值；■Rac_ref(i,j)是坐标为(i,j)的辐射热计在先前时间的阻抗值；■TCRshut(i,j)是坐标为(i,j)的辐射热计在获取所述读取信号时的温度变化系数值；■TCRref(i,j)是坐标为(i,j)的辐射热计在先前时间的温度变化系数值；以及■N是用于归一化增益表Gshut的标量因数。