[发明专利]一种光纤涂覆层几何参数的检测方法有效
| 申请号： | 201310046886.9 | 申请日： | 2013-02-06 |
| 公开（公告）号： | CN103115568A | 公开（公告）日： | 2013-05-22 |
| 发明（设计）人： | 沈奶连;涂建坤;王建财 | 申请（专利权）人： | 上海电缆研究所 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/08;G01B11/24;G01B11/06;G01B11/26 |
| 代理公司： | 上海光华专利事务所 31219 | 代理人： | 许亦琳;余明伟 |
| 地址： | 200093 *** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及光纤涂覆领域，特别是涉及一种光纤涂覆层几何参数的检测方法。本发明提供一种光纤涂覆层几何参数的检测方法，包括如下步骤：在光纤涂覆层端面向后合适的长度处剥离涂覆层，再采用光源从剥离处照入；光源通过涂覆层的传导，将光纤涂覆层的端面照亮；将光纤涂覆层的端面的图像投影至成像系统中，通过各涂覆层不同的材料衰减系数以及不同的光入射角，即能将各层次区分开。本发明通过上述的方法实现光纤涂覆层的几何参数端面测试的测试方法，大大提高光纤涂覆层几何参数测试仪的测试速度和测试精度，特别是一次涂覆层的几何参数的测试精度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光纤 覆层 几何 参数 检测 方法 | ||
【主权项】：
一种光纤涂覆层几何参数的检测方法，包括如下步骤：（1）在光纤涂覆层端面向后合适的长度处剥离涂覆层，再采用光源从剥离处照入；（2）光源通过涂覆层的传导，将光纤涂覆层的端面照亮；（3）将光纤涂覆层的端面的图像投影至成像系统中，通过各涂覆层不同的材料衰减系数以及不同的光入射角，即能将各层次区分开。
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