[发明专利]一种对光纤阵列或芯片进行角度测量的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201310026563.3 申请日: 2013-01-18
公开(公告)号: CN103105282A 公开(公告)日: 2013-05-15
发明(设计)人: 钱建林;徐虎;周庆红;孙权;赵关宝;陈立坚 申请(专利权)人: 上海亨通宏普通信技术有限公司;江苏亨通光电股份有限公司
主分类号: G01M11/00 分类号: G01M11/00
代理公司: 北京宇生知识产权代理事务所(普通合伙) 11116 代理人: 倪骏;庄益利
地址: 201400 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种对光纤阵列或芯片进行角度测量的装置及方法,该装置包括:三维反光镜调准系统,反光镜通过三维反光镜调准系统的三个方向调准后,载物平台及其上的光纤阵列FA或芯片被测物的位置即可确定;四维LED光源调整系统,LED光源系统通过四维LED光源调整系统进行四个方向调准以使得当从光源系统发出的光通过与水平面垂直的反光镜反射后的光点能够进入光源孔内;屏幕表格,预先计算并且在屏幕表格上标记了各光点位置所对应的光纤阵列或芯片的角度值,当LED光源系统为点光源时屏幕表格所显示的光点位置与预先标记的光点位置重合即可计算对应的角度值。
搜索关键词: 一种 光纤 阵列 芯片 进行 角度 测量 装置 方法
【主权项】:
一种对光纤阵列或芯片进行角度测量的装置,其特征在于该装置包括:三维反光镜调准系统,与载物平台固定,反光镜通过三维反光镜调准系统的三个方向调准后,载物平台及其上的光纤阵列FA或芯片被测物的位置即可确定;四维LED光源调整系统,与LED光源系统固定,LED光源系统通过四维LED光源调整系统进行四个方向调准以使得当从光源系统发出的光通过与水平面垂直的反光镜反射后的光点能够进入光源孔内;其中LED光源系统的光源为点光源或线光源;屏幕表格,预先计算并且在屏幕表格上标记了各光点位置所对应的光纤阵列或芯片的角度值,当LED光源系统为点光源时屏幕表格所显示的光点位置与预先标记的光点位置重合即可计算对应的角度值。
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