[实用新型]一种测量平面型薄膜热电器件开路电压的系统有效
申请号: | 201220741003.7 | 申请日: | 2012-12-28 |
公开(公告)号: | CN203011995U | 公开(公告)日: | 2013-06-19 |
发明(设计)人: | 王汉夫;官爱强;李振伟;褚卫国;郭延军;李晓军;金灏;祖敏;刘秀 | 申请(专利权)人: | 国家纳米科学中心 |
主分类号: | G01R19/00 | 分类号: | G01R19/00 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 陈潇潇;南毅宁 |
地址: | 100190 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种测量平面型薄膜热电器件开路电压的系统,该系统包括样品测试架(8),电压测量装置以及温度控制装置;所述平面型薄膜热电器件(19)固定于所述样品测试架(8)上;所述电压测量装置与所述平面型薄膜热电器件(19)连接,用于测量所述平面型薄膜热电器件(19)的开路电压;所述温度控制装置与所述平面型薄膜热电器件(19)连接,用于控制所述平面型薄膜热电器件的热端处于第一预设温度和所述平面型薄膜热电器件的冷端处于第二预设温度。本实用新型能够测量平面型薄膜热电器件的开路电压,尤其是可以在大气环境下测量平面型薄膜热电器件的开路电压随平面型薄膜热电器件两端温差的变化。 | ||
搜索关键词: | 一种 测量 平面 薄膜 热电器件 开路 电压 系统 | ||
【主权项】:
一种测量平面型薄膜热电器件开路电压的系统,其特征在于,该系统包括样品测试架(8),电压测量装置以及温度控制装置; 所述平面型薄膜热电器件(19)固定于所述样品测试架(8)上; 所述电压测量装置与所述平面型薄膜热电器件(19)连接,用于测量所述平面型薄膜热电器件(19)的开路电压; 所述温度控制装置与所述平面型薄膜热电器件(19)连接,用于控制所述平面型薄膜热电器件的热端处于第一预设温度和所述平面型薄膜热电器件的冷端处于第二预设温度。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于国家纳米科学中心,未经国家纳米科学中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201220741003.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。