[实用新型]存储器芯片测试机有效
| 申请号： | 201220712922.1 | 申请日： | 2012-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN203038674U | 公开（公告）日： | 2013-07-03 |
| 发明（设计）人： | 陈石矶 | 申请（专利权）人： | 标准科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G11C29/56 | 分类号： | G11C29/56 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 梁爱荣 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本实用新型揭露一种存储器芯片测试机，至少一测试盘，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面；多个放置槽，形成于该测试盘的上表面，并于每该放置槽内具有一贯穿该测试盘的测试孔；至少一测试基板，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面，配置于该测试盘下方；多个检测区，形成于该测试基板的上表面，每个检测区相对于每个测试孔；一连接端，形成于该测试基板的一侧边；一测试座，具有至少一测试端，该测试端与该连接端连接；及一检测器，与该测试座电性连接。另用测试盘上的测试孔，使存储器芯片测试机的测试基板能一次对齐所有芯片，在同一时间做检测，其减少制程大量的工时，并增加测试者的收益，亦会对后续产品的进度产生正向效益。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 芯片 测试 | ||
【主权项】：
一种存储器芯片测试机，其特征在于，包括：至少一测试盘，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面；多个放置槽，形成于该测试盘的上表面，并于每该放置槽内具有一贯穿该测试盘的测试孔；至少一测试基板，具有一上表面及相对于该上表面的一下表面，配置于该测试盘下方；多个检测区，形成于该测试基板的上表面，每个检测区相对于每个测试孔；一连接端，形成于该测试基板的一侧边；一测试座，具有至少一测试端，该测试端与该连接端连接；及一检测器，与该测试座电性连接。
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