[实用新型]阵列基板及显示装置有效

专利信息
申请号: 201220370795.1 申请日: 2012-07-27
公开(公告)号: CN202948234U 公开(公告)日: 2013-05-22
发明(设计)人: 吴昊;陈雅娟;尹岩岩;王磊 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G02F1/1362 分类号: G02F1/1362;G02F1/1343;G02F1/13
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 实用新型公开了一种阵列基板,该阵列基板的像素单元设有测试区域,该像素单元的像素电极在测试区域内通过过孔连接与位于阵列基板表面的第二透明金属层形成的测试块电连接,从而将像素单元的像素电极的测试点引至阵列基板的表面,测试装置可以通过测试每一个像素单元中位于测试区域内的测试块便可得到该像素单元中位于显示区域的像素电极的半导体特性,所以本实用新型提供的阵列基板能够对每一个像素单元的像素电极进行单独测试,所以能够提高对每一个单独的像素区域中像素电极测试的精确性。本实用新型还提供了一种包括上述阵列基板的显示装置。
搜索关键词: 阵列 显示装置
【主权项】:
一种阵列基板,包括多个像素单元,每一个所述像素单元包括第一透明金属层和第二透明金属层,所述第一透明金属层形成像素电极,所述第二透明金属层形成公共电极,且所述第二透明金属层位于所述像素单元表面,所述第一透明金属层与所述第二透明金属层之间设有绝缘防护层;其特征在于,每一个所述像素单元的像素电极延伸出测试部,所述第二透明金属层还形成有与所述测试部对应的测试块,所述测试块与所述公共电极相互隔离,所述绝缘防护层位于所述测试块与所述测试部之间的部分设有至少一个过孔,所述测试块与所述测试部通过所述过孔电连接。
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