[实用新型]双肖特基结氧化锌半导体薄膜晶体管有效

专利信息
申请号: 201220325576.1 申请日: 2012-07-06
公开(公告)号: CN202633321U 公开(公告)日: 2012-12-26
发明(设计)人: 王玥;王东兴 申请(专利权)人: 哈尔滨理工大学
主分类号: H01L29/786 分类号: H01L29/786
代理公司: 哈尔滨东方专利事务所 23118 代理人: 陈晓光
地址: 150040 黑龙*** 国省代码: 黑龙江;23
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摘要: 双肖特基结氧化锌半导体薄膜晶体管。目前国内外研究的ZnO薄膜晶体管主要采用顶栅与底栅场效应结构。一种双肖特基结氧化锌半导体薄膜晶体管,其组成包括:底衬板(1),所述的底衬板上面连接源极Ag薄膜层(2),所述的源极Ag薄膜层上面连接导电沟道ZnO薄膜层(3),所述的导电沟道ZnO薄膜层上面连接栅极半绝缘Al薄膜层(4),所述的栅极半绝缘Al薄膜层上面连接所述的导电沟道ZnO薄膜层,所述的导电沟道ZnO薄膜上层上面连接所述的漏极Ag薄膜层(5)。本实用新型用于有源矩阵有机发光显示器的驱动单元、高密度集成电路以及其他电子电路等领域中。
搜索关键词: 双肖特基结 氧化锌 半导体 薄膜晶体管
【主权项】:
一种双肖特基结氧化锌半导体薄膜晶体管,其组成包括:底衬板,其特征是:所述的底衬板上面连接源极Ag薄膜层,所述的源极Ag薄膜层上面连接导电沟道ZnO薄膜层,所述的导电沟道ZnO薄膜层上面连接栅极半绝缘Al薄膜层,所述的栅极半绝缘Al薄膜层上面连接所述的导电沟道ZnO薄膜层,所述的导电沟道ZnO薄膜上层上面连接所述的漏极Ag薄膜层。
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