[实用新型]曲面抛光表面粗糙度非接触测量装置有效
申请号: | 201220049905.4 | 申请日: | 2012-02-16 |
公开(公告)号: | CN202432999U | 公开(公告)日: | 2012-09-12 |
发明(设计)人: | 刘建新;谭平 | 申请(专利权)人: | 西华大学 |
主分类号: | G01B11/30 | 分类号: | G01B11/30 |
代理公司: | 成都蓉信三星专利事务所 51106 | 代理人: | 马文峰 |
地址: | 610000 四川*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本实用新型公开了一种曲面抛光表面粗糙度非接触测量装置,包括传感器和计算机控制中心,所述传感器为高精度激光位移传感器,传感器通过ARM系统与计算机控制中心电连接,所述计算机控制中心通过驱动系统连接驱动传感器内压电晶体微动工作台。采用本非接触测量装置测量抛光物件的表面,不仅能真实反映抛光物件表面的形态,而且其测量精度也非常高,能圆满实现曲面表面在加工过程中的在线、自动、非接触测量。此外,这种曲面抛光表面粗糙度非接触测量装置也适用于各种复杂曲面工件表面的工程粗糙度的二维或三维痕迹测量。 | ||
搜索关键词: | 曲面 抛光 表面 粗糙 接触 测量 装置 | ||
【主权项】:
一种曲面抛光表面粗糙度非接触测量装置,包括传感器(1)和计算机控制中心(4),其特征在于:所述传感器(1)为高精度激光位移传感器,传感器(1)通过ARM系统(3)与计算机控制中心(4)电连接,所述计算机控制中心(4)通过驱动系统(2)连接驱动传感器(1)内压电晶体微动工作台。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西华大学,未经西华大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201220049905.4/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种培育食用菌用的移动式加湿装置
- 下一篇:双滴孔滴头滴灌带