[发明专利]一种利用多光谱图像分类的典型地物参考图的制备方法有效
申请号: | 201210594861.8 | 申请日: | 2012-12-31 |
公开(公告)号: | CN103090868A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 张天序;边小勇;颜露新;李姣;高慧杰;彭凡;张力;周刚;朱虎 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G01C21/20 | 分类号: | G01C21/20;G06K9/62 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 李佑宏 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种利用多光谱图像分类进行典型地物参考图制备的方法,从多光谱图像提取出感兴趣类作为地标,并制备出包含所述地标的参考图,以用于目标的间接定位识别,该方法具体包括:从多光谱图像中选择感兴趣类,提取其光谱-空间纹理特征,根据提取的光谱-空间纹理特征对多光谱图像进行分类;在分类基础上,提取完整的感兴趣类,并依据地标选取准则选择用作地标的感兴趣类;根据地标材质类型,利用红外辐射公式计算出地标在大气参数条件下的红外辐射量;将所述红外辐射量映射到灰度值,从而制备出包含地标形状及其灰度、背景灰度的参考图。本发明的方法具有较高的准确性和自动性,可提高基于参考图的匹配识别算法性能。 | ||
搜索关键词: | 一种 利用 光谱 图像 分类 典型 地物 参考 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种利用多光谱图像分类进行参考图制备的方法,其从多光谱图像提取出感兴趣类作为地标,并制备出包含所述地标的参考图,以用于匹配实现目标定位识别,该方法具体包括:从所述多光谱图像中选择感兴趣地物,提取其光谱‑空间纹理特征,并根据提取的光谱‑空间纹理特征对所述多光谱图像进行分类;根据分类结果对所述感兴趣地物进行优化,并选取优化的感兴趣地物中一个或多个作为地标;根据所述地标材质类型,确定所述地标在大气参数条件下的红外辐射量;将所述红外辐射量映射到灰度值,根据该灰度值即可制备出包含背景灰度和地标形状及其灰度的参考图。
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