[发明专利]一种半导体微纳单晶气敏传感器测试系统有效

专利信息
申请号: 201210566058.3 申请日: 2012-12-24
公开(公告)号: CN103048358A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 汤庆鑫;童艳红;蔡彬;塔利哈尔;裴腾飞 申请(专利权)人: 东北师范大学
主分类号: G01N27/00 分类号: G01N27/00;G01R31/26
代理公司: 长春市东师专利事务所 22202 代理人: 刘延军;赵军
地址: 130024 吉*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明涉及气敏传感器测试技术领域,具体涉及一种用于半导体微纳单晶的简单稳定可靠的测试系统。主要由IC电路板、排针、测试芯片底座、测试芯片转换座、测试腔体、与测试腔体配套的盲板和紧固件、固定支架、和外界信号输出端口,进气系统、气体流量监控及组分调控单元、尾气回收系统以及半导体电学测试系统组成。利用本发明,提供了一种对半导体微纳单晶元件进行气敏测试的方法,结构简单、方便实用、工作效率高能够满足低气压气敏测试需要。
搜索关键词: 一种 半导体 微纳单晶气敏 传感器 测试 系统
【主权项】:
一种半导体微纳单晶气敏传感器测试系统,其特征是结构如下:将制备好的SnO2单晶纳米带场效应晶体管固定在芯片底座(3)上,单晶纳米带场效应晶体管的各个电极与芯片底座(3)上的电极相连;在IC电路板(1)上焊接测试芯片转换座(4)和排针(2),使测试芯片转换座(4)的各个针孔和排针(2)一一对应并且导通;IC电路板(1)固定在固定支架(7)上;外接信号输出端口(8)和排针(2)相连,外接信号输出端口(8)和固定支架(7)固定在盲板(6)上,将以上完成连接的组件密封固定在测试腔体(5)中;将测试腔体(5)分别与进气系统(10)气体流量监控及组分调控单元(11)尾气回收系统(12)以及通过外接信号输出端口(8)与半导体电学测试系统(9)相连接。
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