[发明专利]晶体管筛选仪校准装置有效
| 申请号： | 201210562978.8 | 申请日： | 2012-12-21 |
| 公开（公告）号： | CN103048636A | 公开（公告）日： | 2013-04-17 |
| 发明（设计）人： | 王荣 | 申请（专利权）人： | 深圳深爱半导体股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R35/00 | 分类号： | G01R35/00 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518118 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种晶体管筛选仪校准装置，通过标准晶体管载体将进行晶体管筛选仪校准的标准晶体管进行封装，在测试时，通过第一选择开关选择不同的标准晶体管进行校准。通过使用该晶体管筛选仪校准装置进行校准避免了手工进行校准时测试速度慢、效率低且人工测量会有个体差异导致测量数据误差的问题，加快测量速度、提高测量效率且测量精度高、重复性好。 | ||
| 搜索关键词： | 晶体管 筛选 校准 装置 | ||
【主权项】：
一种晶体管筛选仪校准装置，用于对晶体管筛选仪进行校准，其特征在于，包括：标准晶体管载体，连接有第一数量不同规格的标准晶体管，且具有一一对应每一个标准晶体管的基极和发射极的触点；第一选择开关，包括通过总线与所述基极触点连接的基极开关选择组及对应的基极选择键，和通过总线与所述发射极触点连接的发射极开关选择组及对应的发射极选择键；三个接线柱，分别为与所述基极选择键连接的基极接线柱、与所述发射极选择键连接的发射极接线柱以及与所有标准晶体管的集电极连接的集电极接线柱；所述基极接线柱、发射极接线柱以及集电极接线柱用于分别连接所述晶体管校准仪的三个检测探针。
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