[发明专利]一种三维光谱数据校正方法有效

专利信息
申请号: 201210558656.6 申请日: 2012-12-20
公开(公告)号: CN102998294A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 席北斗;何小松;潘红卫;许其功;魏自民 申请(专利权)人: 中国环境科学研究院
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 周长兴
地址: 100012 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 一种三维光谱数据校正方法,主要步骤如下:步骤一:用计算机读取数据;数据来源于荧光分光光度计采集到的三维激发/发射光谱图或者将二维激发光谱转换为三维激发/发射光谱,得到原始数据的三维激发/发射光谱矩阵;步骤二:8参数法校正三维激发/发射光谱:由这8个参数确定散射区边界,然后搜索有效点,最后进行插值,并将插值得到的点集替换原来散射区的数据;步骤三:输出结果。本发明针对STOCKS位移问题采用灵活的参数输入方式,可处理不同的散射区,本发明的方法快速、准确、便捷、高效,适用于EX/EM的瑞利散射和拉曼散射的校正。
搜索关键词: 一种 三维 光谱 数据 校正 方法
【主权项】:
一种三维光谱数据校正方法,主要步骤如下:步骤一:用计算机读取数据;数据来源于荧光分光光度计采集到的三维激发/发射光谱图或者将二维激发光谱转换为三维激发/发射光谱,得到原始数据的三维激发/发射光谱矩阵;步骤二:8参数法校正三维激发/发射光谱:8参数法中的8个参数分别为:散射区在起始发射波长处的激发波长ex1,散射区在终止发射波长处的激发波长ex2,散射区在起始激发波长处的发射波长em1,散射区在终止激发波长处的发射波长em2,散射区定义左边界线调整的平移量detl1,散射区定义左边界线调整的旋转偏量detl2,散射区定义右边界线调整的平移量detr1,散射区定义右边界线调整的旋转偏量detr2,由这8个参数确定散射区边界,然后搜索有效点,最后进行插值,并将插值得到的点集替换原来散射区的数据;步骤三:输出结果。
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