[发明专利]一种清洁等离子体反应腔侧壁的方法有效

专利信息
申请号: 201210553583.1 申请日: 2012-12-18
公开(公告)号: CN103871865A 公开(公告)日: 2014-06-18
发明(设计)人: 王兆祥;刘志强;吴紫阳;邱达燕 申请(专利权)人: 中微半导体设备(上海)有限公司
主分类号: H01L21/3065 分类号: H01L21/3065
代理公司: 上海智信专利代理有限公司 31002 代理人: 王洁
地址: 201201 上海市浦东新*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种清洁等离子体反应腔侧壁的方法,调整射频功率源的脉冲输出为第一射频功率和第二射频功率,第一射频功率可以电离含氧的清洁气体为氧正离子和氧自由基,所述氧正离子和所述氧自由基与反应腔侧壁的聚合物进行反应,对反应腔侧壁进行清洁。第二射频功率低于第一射频功率,电离率较低或不对清洁气体进行电离,故氧正离子消失或以较小的浓度存在,由于氧自由基的存在时间较长,小于等于10ms,故不会随着射频功率源的降低而即刻消失,氧自由基可以对反应腔侧壁进行清洁并且不会对静电吸盘造成损伤;本发明在不影响清洁效率的同时,减少了静电吸盘暴露在具有物理轰击作用的氧正离子下的时间,延长了静电吸盘的使用寿命。
搜索关键词: 一种 清洁 等离子体 反应 侧壁 方法
【主权项】:
一种清洁等离子体反应腔侧壁的方法,其特征在于:所述方法包括:第一步骤:在反应腔内通入含氧的清洁气体,调节等离子体反应室的射频功率至第一射频功率,含氧的清洁气体在第一射频功率的作用下电离形成氧正离子和氧自由基等粒子;第二步骤:调节等离子体反应室的射频功率至第二射频功率,所述第二射频功率低于所述第一射频功率,所述含氧的清洁气体不再电离或者电离较少的氧离子和氧自由基,所述氧离子消失或以较小浓度存在,所述第一步骤和所述第二步骤交替进行。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中微半导体设备(上海)有限公司,未经中微半导体设备(上海)有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210553583.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top