[发明专利]一种基于太赫兹波伪热光源的成像装置

摘要

本发明公开了一种基于太赫兹波伪热光源的成像装置，包括太赫兹波参量振荡器，太赫兹波聚焦透镜，旋转的毛面硅片，太赫兹波准直透镜，太赫兹波分束器，太赫兹透射光路系统和太赫兹反射光路系统，以及符合测量电路。其中太赫兹透射光路系统由待成像物体，太赫兹波收集透镜，太赫兹衰减片，肖特基势垒光电二极管组成；太赫兹反射光路系统由太赫兹衰减片和肖特基势垒光电二极管组成。具有结构简单、操作灵活、抗干扰能力强等优点。

主权项

一种基于太赫兹波伪热光源的成像装置，其特征在于，包括太赫兹波参量振荡器（1），太赫兹波聚焦透镜（2），旋转的毛面硅片（3），太赫兹波准直透镜（4），太赫兹波分束器（5），太赫兹透射光路系统和太赫兹反射光路系统，以及符合测量装置（12）；其中：所述毛面硅片（3）置于太赫兹波聚焦透镜（2）的焦点附近，毛面硅片（3）到太赫兹波准直透镜（4）的距离为太赫兹波准直透镜（4）的焦距长度；所述的太赫兹透射光路系统由待成像物体（6），太赫兹波收集透镜（7），第一太赫兹衰减片（8）和第一肖特基势垒光电二极管（9）组成；其中，第一肖特基势垒光电二极管（9）置于太赫兹波收集透镜（7）的焦点上；第一太赫兹衰减片（8）置于太赫兹波收集透镜（7）和第一肖特基势垒光电二极管（9）之间；所述的太赫兹反射光路系统由第二太赫兹衰减片（10）和第二肖特基势垒光电二极管（11）组成；其中，第二肖特基势垒光电二极管（11）做空间平面成像扫描；第一肖特基势垒光电二极管（9）和第二肖特基势垒光电二极管（11）连接于符合测量装置（12）。