[发明专利]按键开关通断计数电路

摘要

本发明公开了一种按键开关通断计数电路，包括按键开关寿命测试装置、计数模块和延时开关模块。测试时，所述按键开关连续导通并断开一次，所述按键开关在所述按键开关寿命测试装置作用下导通时的导通时间达到所述延时开关模块设定的第一延时时间，且在所述按键开关寿命测试装置作用下导通后又断开时的第二停留时间达到所述延时开关模块设定的第二延时时间时，所述延时开关模块状态连续翻转两次，所述计数模块计数一次。避免了按键开关导通时不锁死或按键开关不能断开等测试隐患，保证通断次数测试的有效性，测试精度高并降低了劳动强度。

主权项

一种按键开关通断计数电路，用于测试按键开关有效通断次数，包括按键开关寿命测试装置和计数模块，其特征在于，还包括延时开关模块；所述按键开关寿命测试装置的按键头用于周期性地按压所述按键开关，所述按键开关连接所述延时开关模块，所述延时开关模块连接所述计数模块，所述计数模块、所述延时开关模块和所述按键开关寿命测试装置分别连接电源；所述延时开关模块在检测到按键开关依次出现导通和断开的状态，且满足如下条件时，控制计数模块进行一次计数累加：所述按键开关的导通时间大于所述延时开关模块设定的第一延时时间；所述按键开关的断开时间大于所述延时开关模块设定的第二延时时间；所述第一延时时间和第二延时时间分别用于判定是否出现符合条件的锁死和弹起；其中，所述第一延时时间设定为大于所述按键开关寿命测试装置的按键头的按压停留时间并小于按键头的按压周期；所述第二延时时间设定为小于所述按键开关寿命测试装置的按键头的收回停留时间。