[发明专利]基于荧光寿命差分的超分辨显微方法和装置有效

专利信息
申请号: 201210488037.4 申请日: 2012-11-26
公开(公告)号: CN103048299A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 匡翠方;郝翔;李帅;顾兆泰;王轶凡 申请(专利权)人: 浙江大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 代理人: 胡红娟
地址: 310027 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要: 发明公开了一种基于荧光寿命差分的超分辨显微方法,包括以下步骤:1)将圆偏振光作为激发光束,使用经涡旋位相编码的圆偏振光作为抑制光束,所述激发光束和抑制光束通过大数值孔径显微物镜聚焦并同时对荧光样品进行扫描;2)利用所述大数值孔径显微物镜收集扫描荧光样品发出的荧光,并通过光电感应器件得到整幅荧光强度图像;3)通过分析所述荧光强度图像的荧光强度信息,得到相应的荧光寿命信息;4)设置时间门,对所述荧光寿命信息中的长寿命荧光图像和短寿命荧光图像进行分离;5)设置权值,用所述的短寿命荧光图像减去加权的长寿命荧光图像,得到最终的超分辨显微图像。本发明还公开了一种基于荧光寿命差分的超分辨显微装置。
搜索关键词: 基于 荧光 寿命 分辨 显微 方法 装置
【主权项】:
一种基于荧光寿命差分的超分辨显微方法,其特征在于,包括以下步骤:1)将圆偏振光作为激发光束,使用经涡旋位相编码的圆偏振光作为抑制光束,所述激发光束通过大数值孔径显微物镜聚焦形成实心聚焦光斑,所述抑制光束通过所述大数值孔径显微物镜聚焦形成空心聚焦光斑,两光斑同时对荧光样品进行扫描;2)利用所述大数值孔径显微物镜收集扫描荧光样品发出的荧光,并通过光电感应器件得到整幅荧光强度图像;3)通过分析所述荧光强度图像的荧光强度信息,得到相应的荧光寿命信息;4)设置时间门,对所述荧光寿命信息中的长寿命荧光图像和短寿命荧光图像进行分离;5)设置权值,用所述的短寿命荧光图像减去加权的长寿命荧光图像,得到最终的超分辨显微图像。
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