[发明专利]一种测量超长导轨直线度的方法无效
| 申请号： | 201210487923.5 | 申请日： | 2012-11-26 |
| 公开（公告）号： | CN103017690A | 公开（公告）日： | 2013-04-03 |
| 发明（设计）人： | 王孝坤 | 申请（专利权）人： | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
| 主分类号： | G01B11/27 | 分类号： | G01B11/27 |
| 代理公司： | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人： | 陶尊新 |
| 地址： | 130033 吉*** | 国省代码： | 吉林;22 |
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| 摘要： | 一种测量超长导轨直线度的方法，涉及一种测量导轨尤其是超长导轨直线度的方法，解决现有测量方法测量精度低、误差大，并且存在数据处理和运算比较复杂的问题，本发明所述的方法通过激光跟踪仪测量、采集超长导轨上若干数据点，对这些数据点进行空间直线拟合，采用最小二乘拟合算法对采集的N个测试采样点的数据信息进行直线度计算，即可得到导轨的直线度；本发明所述的方法数据分析和实验操作简便、测试时间短、数据处理简单、测试成本低以及测试效率很高。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测量 超长 导轨 直线 方法 | ||
【主权项】：
一种测量超长导轨直线度的方法，其特征是，该方法由以下步骤实现：步骤一、在超长导轨（2）上规划N个测试采样点，所述N个测试采样点的间距相等，所述N为正整数；步骤二、将球形固定反射器（3）吸附在反射器基座（4）上，反射器基座（4）吸附在导轨滑座（5）上，所述导轨滑座（5）沿超长导轨的长度方向放置在步骤一所述的超长导轨的第一个测试采样点处；步骤三、调整激光跟踪仪（1），使激光跟踪仪（1）出射的光束经球形固定反射器（3）后返回激光跟踪仪（1），所述激光跟踪仪（1）获得第一个测试采样点的数据信息；步骤四、移动导轨滑座（5）至下一个测试采样点，激光跟踪仪（1）依次采集每个测试采样点的数据信息；实现对N个测试采样点的数据采集；步骤五、采用最小二乘拟合算法对步骤四采集的N个测试采样点的数据信息进行直线度计算，获得超长导轨（2）的直线度。
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