[发明专利]具有改良式压柱的测试座及其测试系统有效
| 申请号： | 201210453802.9 | 申请日： | 2012-11-13 |
| 公开（公告）号： | CN103809097A | 公开（公告）日： | 2014-05-21 |
| 发明（设计）人： | 丁伟修 | 申请（专利权）人： | 京元电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26;G01R1/04;G01D18/00 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 宋焰琴 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 中国台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种具有改良式压柱的测试座及其测试系统，测试座包括：一吸测盘、一套衬座、及一基座。吸测盘具有多个压柱，每一压柱穿设有一通道及具有一图样的截面部；套衬座上具有可容纳多个待测传感器的多个容纳室，多个容纳室对应多个压柱而设置；基座上具有多个穿孔以容纳多个探针。其中，吸测盘的每一压柱分别置入套设于套衬座的每一容纳室。由此，可避免在吸取移动及压测待测传感器时，造成待测传感器的感应元件，产生测试失效等问题。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 改良 式压柱 测试 及其 系统 | ||
【主权项】：
一种具有改良式压柱的测试座，包括：一吸测盘，具有多个压柱，每一压柱穿设有一通道及具有一图样的截面部；一套衬座，具有可容纳多个待测传感器的多个容纳室，其对应该多个压柱设置，该吸测盘的每一压柱分别置入套设于该套衬座的每一容纳室；以及一基座，该基座上具有多个穿孔以容纳多个探针。
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