[发明专利]快速完成曝光时面板与掩膜精确对位的方法无效
申请号: | 201210429672.5 | 申请日: | 2012-11-01 |
公开(公告)号: | CN103792800A | 公开(公告)日: | 2014-05-14 |
发明(设计)人: | 顾玉梅 | 申请(专利权)人: | 南京华显高科有限公司 |
主分类号: | G03F9/00 | 分类号: | G03F9/00;G03F7/20;H01J9/20 |
代理公司: | 南京天华专利代理有限责任公司 32218 | 代理人: | 夏平;瞿网兰 |
地址: | 210061 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 一种快速完成曝光时面板与掩膜精确对位的方法,它利用感光干膜实现面板与掩膜精确对位的方法,快速完成精确对位。它可以广泛用于PDP面板上光敏介质层的制备工艺中。 | ||
搜索关键词: | 快速 完成 曝光 面板 精确 对位 方法 | ||
【主权项】:
一种快速完成曝光时面板与掩膜精确对位的方法,其特征是它包括以下步骤:a、面板(1)准备,在有电极的面板上整板印刷光敏介质,并烘干; b、掩膜(4)准备,清洁掩膜;c、感光干膜(6)准备,在干膜切割机上切取与介质面板尺寸大小一致的感光干膜;d、粘尘辊清洁曝光机的上下板面;e、将感光干膜吸附在彩色光滑纸上(5);f、将清洁好的掩膜(4)固定在曝光机内的上板面上(2);g、将贴有感光干膜的光滑纸固定在曝光机内的下板面(3)上即曝光区,移动感光干膜,尽量使它放在曝光区的中间;h、对感光干膜进行10—15秒钟的曝光;i、将面板(1)放置干膜(6)上,根据感光干膜上的对位标记(7),用肉眼将面板对位标记与其初步对齐;j、通过CCD对位装置寻找对位标记,通过曝光机的x‑y滚轴调节功能,手动微调下板面(3),使观察到的两个对位标记完全重合,从而实现最终的精确对位;k、对精确对位后的面板(1)正常曝光。
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