[发明专利]快速完成曝光时面板与掩膜精确对位的方法无效

专利信息
申请号: 201210429672.5 申请日: 2012-11-01
公开(公告)号: CN103792800A 公开(公告)日: 2014-05-14
发明(设计)人: 顾玉梅 申请(专利权)人: 南京华显高科有限公司
主分类号: G03F9/00 分类号: G03F9/00;G03F7/20;H01J9/20
代理公司: 南京天华专利代理有限责任公司 32218 代理人: 夏平;瞿网兰
地址: 210061 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种快速完成曝光时面板与掩膜精确对位的方法,它利用感光干膜实现面板与掩膜精确对位的方法,快速完成精确对位。它可以广泛用于PDP面板上光敏介质层的制备工艺中。
搜索关键词: 快速 完成 曝光 面板 精确 对位 方法
【主权项】:
一种快速完成曝光时面板与掩膜精确对位的方法,其特征是它包括以下步骤:a、面板(1)准备,在有电极的面板上整板印刷光敏介质,并烘干; b、掩膜(4)准备,清洁掩膜;c、感光干膜(6)准备,在干膜切割机上切取与介质面板尺寸大小一致的感光干膜;d、粘尘辊清洁曝光机的上下板面;e、将感光干膜吸附在彩色光滑纸上(5);f、将清洁好的掩膜(4)固定在曝光机内的上板面上(2);g、将贴有感光干膜的光滑纸固定在曝光机内的下板面(3)上即曝光区,移动感光干膜,尽量使它放在曝光区的中间;h、对感光干膜进行10—15秒钟的曝光;i、将面板(1)放置干膜(6)上,根据感光干膜上的对位标记(7),用肉眼将面板对位标记与其初步对齐;j、通过CCD对位装置寻找对位标记,通过曝光机的x‑y滚轴调节功能,手动微调下板面(3),使观察到的两个对位标记完全重合,从而实现最终的精确对位;k、对精确对位后的面板(1)正常曝光。
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