[发明专利]硅基液晶波长选择开关的波长漂移检测及校正方法有效
| 申请号： | 201210428708.8 | 申请日： | 2012-11-01 |
| 公开（公告）号： | CN102879864A | 公开（公告）日： | 2013-01-16 |
| 发明（设计）人： | 尤全;刘子晨;谢德权;程燕 | 申请（专利权）人： | 武汉邮电科学研究院 |
| 主分类号： | G02B6/35 | 分类号： | G02B6/35;G02B6/293 |
| 代理公司： | 北京捷诚信通专利事务所(普通合伙) 11221 | 代理人： | 魏殿绅;庞炳良 |
| 地址： | 430074 湖*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种硅基液晶波长选择开关的波长漂移检测及校正方法，波长漂移检测方法通过设定特定的灰度图使得LCOS上某列像素对应的波长偏转到某一输出端口，然后检测该列像素对应的波长，与出厂时的像素-波长对应表做比较，可以判断是否发生了波长偏移。校正方法是计算出波长漂移的像素个数，在控制软件中平移像素列计数器，使得像素列与波长重新一一对应。本发明，对于波长选择开光中不可复原的波长漂移，能够准确检测并进行校正。 | ||
| 搜索关键词： | 液晶 波长 选择 开关 漂移 检测 校正 方法 | ||
【主权项】：
硅基液晶波长选择开关的波长漂移检测方法，其特征在于，包括以下步骤：向LCOS面板中写入特定的灰度图，所述灰度图只有一列像素列Li有灰度变化，其余像素列均为黑色；从波长选择开关的输入端口输入光信号，并检测与像素列Li对应的输出端口的光信号的波长λi1；根据所述λi1与出厂时该列像素列对应的波长λi0的比较结果，判断是否发生了波长漂移；如果λi1＝λi0，则说明没有发生波长漂移；如果λi1≠λi0，说明发生了波长漂移。
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