[发明专利]基于双能点多层膜的软X射线掠入射光学系统及其应用无效
申请号: | 201210425897.3 | 申请日: | 2012-10-30 |
公开(公告)号: | CN102930918A | 公开(公告)日: | 2013-02-13 |
发明(设计)人: | 伊圣振;穆宝忠;蒋励;王占山;王新 | 申请(专利权)人: | 同济大学 |
主分类号: | G21K1/06 | 分类号: | G21K1/06 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 叶敏华 |
地址: | 200092 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明涉及一种基于双能点多层膜的软X射线掠入射光学系统及其应用,该光学系统包括物镜,物镜上镀设双能点多层膜,双能点多层膜由上方膜系和下方膜系构成,上方膜系针对工作能点软X射线反射,下方膜系针对8keV能点X射线反射;首先在实验室大气环境下利用Cu靶X射线管寻找到8keV能点X射线的最佳物点,此最佳物点与软X射线掠入射光学系统的最佳物点相同,然后切换到强激光装置,用于实际软X射线工作能点的ICF物理实验。与现有技术相比,本发明具有成本低、装调简单、实验时间短、不引人额外误差、不增加磁控溅射设备等优点。 | ||
搜索关键词: | 基于 双能点 多层 射线 入射 光学系统 及其 应用 | ||
【主权项】:
一种基于双能点多层膜的软X射线掠入射光学系统,其特征在于,该光学系统包括物镜,所述的物镜上镀设双能点多层膜,所述的双能点多层膜由上方膜系和下方膜系构成,所述的上方膜系针对工作能点软X射线反射,所述的下方膜系针对8keV能点X射线反射。
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