[发明专利]活动模拟块检测结构在审
申请号: | 201210423162.7 | 申请日: | 2012-10-30 |
公开(公告)号: | CN102997780A | 公开(公告)日: | 2013-03-27 |
发明(设计)人: | 朱建平 | 申请(专利权)人: | 无锡市麦希恩机械制造有限公司 |
主分类号: | G01B5/00 | 分类号: | G01B5/00 |
代理公司: | 无锡盛阳专利商标事务所(普通合伙) 32227 | 代理人: | 杜丹盛 |
地址: | 214027 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明提供了活动模拟块检测结构,其使得对零件表面的大块凹坑的检测精准度高、且检测的效率高。其包括检具、零件,所述零件压装于所述检具,其特征在于:所述检具的两侧设置有基准平面,所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块,所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块,上部模拟块为活动部件,所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合,所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面,所述上部模拟块的上表面为平面,当检测合格时,所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。 | ||
搜索关键词: | 活动 模拟 检测 结构 | ||
【主权项】:
活动模拟块检测结构,其包括检具、零件,所述零件压装于所述检具,其特征在于:所述检具的两侧设置有基准平面,所述检具对应所述零件的表面的凹坑的位置设置有下部凹坑模拟块,所述凹坑配合嵌装于所述下部凹坑模拟块,上部模拟块为活动部件,所述上部模拟块的下端、侧部形状和所述凹坑相吻合,所述上部模拟块置于所述凹坑的上表面,所述上部模拟块的上表面为平面,当检测合格时,所述上部模拟块的上表面和两侧的基准平面相平齐。
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