[发明专利]反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置有效

专利信息
申请号: 201210420320.3 申请日: 2012-10-29
公开(公告)号: CN103048061A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 信裕;海然;哈桑;丁洪斌 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: G01K11/00 分类号: G01K11/00
代理公司: 大连星海专利事务所 21208 代理人: 徐淑东
地址: 116024 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明涉及核聚变与光学诊断领域,公开了一种反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置,太赫兹波发射装置透过窗口向石墨瓦垂直射入太赫兹波,激光测距模块测量探头到石墨瓦之间距离,同时探头测量并记录工作温度下由石墨瓦反射回的太赫兹时域波谱,并将其在有效频域内做傅里叶变换得到工作温度下频域谱;数据自动选取特征谱线,读取数据库中该探测距离时标定温度下该特征谱线位置,两者相比较得出频移量,与数据库的频移量-温度的函数关系相对照推断出瞬时温度,将结果输出并导入至计算机系统保存。本发明采用反射太赫兹时域谱技术,能够在线、同步并且无接触无损伤地检测磁约束聚变装置偏滤器石墨瓦的热冲击瞬时温度。
搜索关键词: 反射 赫兹 技术 检测 滤器 石墨 瞬态 温度 装置
【主权项】:
1.反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置,其特征在于,所述反射太赫兹谱技术检测偏滤器石墨瓦瞬态温度的装置,放置于磁约束聚变装置观测窗口外部,具体包括:太赫兹波发射装置(2)、太赫兹波探测装置(3)、激光测距探头(4)、太赫兹时域-频域转换模块(5)、数据分析及数据库比对模块(6)、结果输出模块(7);所述激光测距探头方向垂直于偏滤器石墨瓦(1),激光测距探头(4)探测偏滤器石墨瓦(1)与探头距离,并将记录的探测距离输入至数据分析及数据库比对模块(6);所述太赫兹波发射装置(2)向偏滤器石墨瓦(1)射入太赫兹波,偏滤器石墨瓦(1)反射回的太赫兹波由太赫兹波探测装置(3)接收并记录该温度下偏滤器石墨瓦(1)反射回的太赫兹时域谱;将上述太赫兹时域谱导入太赫兹时域-频域转换模块(5),所述太赫兹时域-频域转换模块(5)将太赫兹时域谱在有效频域内做傅里叶变换,得到工作温度下的频域谱;将上述频域谱导入数据分析及数据库比对模块(6),数据分析及数据库比对模块(6)自动选取特征谱线,读取探测距离下标定温度的特征谱线峰值位置,计算工作温度与标定温度特征谱线峰值位置频移量;所述数据分析及数据库比对模块(6)将上述频移量与数据库中探测温度下的频移量-温度函数关系相比对,从而算出工作瞬时温度,由结果输出模块(7)输出结果;将输出结果导入至计算机系统(8),计算机系统(8)记录随着时间变化石墨瓦工作温度的变化情况。
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