[发明专利]集成电路测试系统及测试方法有效
| 申请号： | 201210413616.2 | 申请日： | 2012-10-25 |
| 公开（公告）号： | CN103777131A | 公开（公告）日： | 2014-05-07 |
| 发明（设计）人： | 顾良波;张志勇;余琨;王锦;叶建明;郝丹丹 | 申请（专利权）人： | 上海华岭集成电路技术股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 周耀君 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种集成电路测试系统及测试方法，其中，所述集成电路测试系统包括：多台测试机及一台探针台，所述探针台与所述多台测试机信号连接；当探针台定位到一待测芯片后，所述探针台同时向所述多台测试机发送SOT信号。在此，采用了多台测试机，由此便能减少对待测芯片的检测周期，提高检测效率，降低检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 集成电路 测试 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种集成电路测试系统，其特征在于，包括：多台测试机及一台探针台，所述探针台与所述多台测试机信号连接；当探针台定位到一待测芯片后，所述探针台同时向所述多台测试机发送SOT信号。
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