[发明专利]一种基于SPR的检测系统及其检测方法有效
申请号: | 201210406085.4 | 申请日: | 2012-10-23 |
公开(公告)号: | CN102944537A | 公开(公告)日: | 2013-02-27 |
发明(设计)人: | 邵永红;顾大勇 | 申请(专利权)人: | 深圳大学 |
主分类号: | G01N21/55 | 分类号: | G01N21/55 |
代理公司: | 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙) 44312 | 代理人: | 陈健 |
地址: | 518060 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明属于光电检测技术领域,提供了一种基于SPR的检测系统及其检测方法。该系统及方法将光谱扫描技术与角度检测技术或相位检测技术相结合,在利用角度检测技术或相位检测技术获得SPR共振角后,将阵列光源中对应位置的点光源点亮而将其它位置的点光源关闭,之后利用光谱扫描技术对点亮的点光源进行光谱扫描,获得最佳线性区的光谱位置,将该光谱位置的对应波长设置为光谱滤波器工作波长。该系统及方法通过光谱对SPR共振位置的改变,实现小角度高精度的连续扫描,充分利用了光源的谱宽,可避免阵列光源中密集的点光源排列和光源光谱的利用率低,有效解决阵列光源中点的密集程度与扫描角度之间的矛盾,因而可降低产品成本、简化工艺。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 spr 检测 系统 及其 方法 | ||
【主权项】:
一种基于SPR的检测系统,其特征在于,所述系统包括:由若干点光源排列而成的阵列光源,用于产生传感光;光学组件,用于对所述传感光准直后,获取偏振光,并使得所述偏振光入射到传感面;控制器,用于控制各点光源依次点亮,使得各偏振光依次以不同角度照射到所述传感面;面阵探测器,用于记录各点光源对应的干涉图像或所述偏振光经所述传感面后的反射光强度,获得SPR角度曲线,得到SPR共振角,并由所述控制器控制所述阵列光源中、所述SPR共振角对应位置的点光源点亮而其它位置点光源关闭;光谱滤波器,设置在所述偏振光经所述传感面后的反射光光路上,用于对所述控制器点亮的点光源进行光谱扫描,获得最佳线性区的光谱位置,之后由所述控制器设置所述光谱位置的对应波长为所述光谱滤波器的工作波长。
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