[发明专利]双曲面四极杆及其加工方法和四极杆质谱仪有效

专利信息
申请号: 201210401200.9 申请日: 2012-10-19
公开(公告)号: CN103187218A 公开(公告)日: 2013-07-03
发明(设计)人: 王理;李良宇;王丽莉;谢志行;王文松 申请(专利权)人: 北京北分瑞利分析仪器(集团)有限责任公司;王理
主分类号: H01J9/00 分类号: H01J9/00;H01J49/42;H01J49/02
代理公司: 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 代理人: 韩国胜
地址: 100095 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于分析仪器技术领域,公开了一种双曲面四极杆及其加工方法和四极杆质谱仪。该双曲面四极杆的加工方法首先粗加工出多个具有通腔的陶瓷环,并通过十字轴向切割将圆柱形金属母杆切割成四个相同的子杆,然后将切割后的圆柱形金属母杆依次轴向装配在多个陶瓷环的通腔中,最后再把四个子杆精加工成所需要的具有双曲面的双曲杆,其中,双曲面的场半径均相同,形成一个完善的双曲场,保证了双曲面四极杆的精度,使得四极杆质谱仪具有很好的性能指标。且生产成本低,整个加工过程对陶瓷环和圆柱形金属母杆的加工精度要求较低,把加工误差和装配误差合二为一,大大降低了加工难度,适合批量生产。
搜索关键词: 双曲面 四极杆 及其 加工 方法 质谱仪
【主权项】:
一种双曲面四极杆的加工方法,其特征在于,包括:S1、粗加工出多个具有通腔的陶瓷环;S2、将圆柱形金属母杆十字轴向切割成四个相同的子杆,其中,所述圆柱形金属母杆的半径与所述陶瓷环通腔配合;S3、将切割后的所述圆柱形金属母杆依次轴向装配在所述多个陶瓷环的通腔中;S4、根据预设的场半径R0精加工出所述四个子杆的双曲面,且所述四个子杆的双曲面两两相对。
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