[发明专利]MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器无效

专利信息
申请号: 201210395263.8 申请日: 2012-10-17
公开(公告)号: CN102881762A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 蒋大勇;赵曼;梁庆成;高尚;赵建勋;秦杰明 申请(专利权)人: 长春理工大学
主分类号: H01L31/108 分类号: H01L31/108;H01L31/0352;B82Y15/00
代理公司: 长春菁华专利商标代理事务所 22210 代理人: 陶尊新
地址: 130022 吉林*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器,采用双温区化学气相沉积方法制备MgZnO纳米线阵列,由此获得MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器,其响应度高于现有MgZnO纳米线紫外光电探测器,属于半导体光电技术领域。本发明之MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器下电极位于硅衬底背面,MgZnO纳米线分布在硅衬底正面,上电极位于MgZnO纳米线上面,并与MgZnO纳米线欧姆接触,其特征在于,所述MgZnO纳米线竖直等高、整齐分布,构成MgZnO纳米线阵列。本发明用于环境污染监控、火焰光电探测、紫外预警以及通讯等领域。
搜索关键词: mgzno 纳米 阵列 紫外 光电 探测器
【主权项】:
一种MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器,下电极位于硅衬底背面,MgZnO纳米线分布在硅衬底正面,上电极位于MgZnO纳米线上面,并与MgZnO纳米线欧姆接触,其特征在于,所述MgZnO纳米线竖直等高、整齐分布,构成MgZnO纳米线阵列。
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