[发明专利]MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器无效
申请号: | 201210395263.8 | 申请日: | 2012-10-17 |
公开(公告)号: | CN102881762A | 公开(公告)日: | 2013-01-16 |
发明(设计)人: | 蒋大勇;赵曼;梁庆成;高尚;赵建勋;秦杰明 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | H01L31/108 | 分类号: | H01L31/108;H01L31/0352;B82Y15/00 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
地址: | 130022 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器,采用双温区化学气相沉积方法制备MgZnO纳米线阵列,由此获得MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器,其响应度高于现有MgZnO纳米线紫外光电探测器,属于半导体光电技术领域。本发明之MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器下电极位于硅衬底背面,MgZnO纳米线分布在硅衬底正面,上电极位于MgZnO纳米线上面,并与MgZnO纳米线欧姆接触,其特征在于,所述MgZnO纳米线竖直等高、整齐分布,构成MgZnO纳米线阵列。本发明用于环境污染监控、火焰光电探测、紫外预警以及通讯等领域。 | ||
搜索关键词: | mgzno 纳米 阵列 紫外 光电 探测器 | ||
【主权项】:
一种MgZnO纳米线阵列紫外光电探测器,下电极位于硅衬底背面,MgZnO纳米线分布在硅衬底正面,上电极位于MgZnO纳米线上面,并与MgZnO纳米线欧姆接触,其特征在于,所述MgZnO纳米线竖直等高、整齐分布,构成MgZnO纳米线阵列。
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H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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