[发明专利]微区变角度光谱测试系统有效
| 申请号： | 201210381236.5 | 申请日： | 2012-10-10 |
| 公开（公告）号： | CN103528684A | 公开（公告）日： | 2014-01-22 |
| 发明（设计）人： | 段宣明;李敬;董贤子 | 申请（专利权）人： | 中国科学院理化技术研究所 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京正理专利代理有限公司 11257 | 代理人： | 张雪梅 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种微区光谱测试系统。该测试系统包括入射光路、样品台和接收光路，所述入射光路包括位于入射光路径中的入射显微物镜，第一光谱测试单元和第一实时观察系统；所述接收光路包括位于出射光路径中的接收显微物镜，第二光谱测试单元和第二实时观察系统，该测试系统进一步包括：样品台转动装置，用于调节所述样品台绕垂直于样品台的转轴转动，和第一光路转动装置，用于调节所述入射光路或接收光路绕所述转轴旋转。本发明的微区光谱测试系统可对微区样品提供入射角度和接收角度可以改变的透射、反射或荧光等多种光谱测试模式。 | ||
| 搜索关键词： | 微区变 角度 光谱 测试 系统 | ||
【主权项】：
一种微区光谱测试系统，包括入射光路、样品台和接收光路，其特征在于，所述入射光路包括位于入射光路径中的光学元件、入射显微物镜，第一光谱测试单元和第一实时观察系统；所述接收光路包括位于出射光路径中的光学元件、接收显微物镜，第二光谱测试单元和第二实时观察系统，该测试系统进一步包括：样品台转动装置，用于调节所述样品台绕垂直于样品台的转轴转动，和第一光路转动装置，用于调节所述入射光路或接收光路绕所述转轴旋转。
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