[发明专利]红外分析用待测薄片的制备方法及测定Fc、Ec和Et的方法有效

专利信息
申请号: 201210380845.9 申请日: 2012-10-09
公开(公告)号: CN102879247A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 王玉辉;刘国圣;张大伟;周丛 申请(专利权)人: 神华集团有限责任公司;中国神华煤制油化工有限公司;中国神华煤制油化工有限公司包头煤化工分公司
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N21/25
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 李丙林;余刚
地址: 100011 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供了一种红外分析用待测薄片的制备方法及测定Fc、Ec和Et的方法。该制备方法包括以下步骤:S1、将抗冲共聚物进行两次压片形成薄片;S2、将薄片在2~5min内冷却至室温形成待测薄片。将抗冲共聚物采用压片机进行两次压片,在压片过程中共聚物分子的晶型呈不规则排列,然后采用急速冷却的方式使薄片在2~5min内降温至室温,从而得到的待测薄片表面光滑、无斑点出现且呈半透明状态,内部的共聚物分子的晶型保持不规则排列,从而在采用其测定Fc、Ec和Et时,能够数据的重现性较好,测试结果较为准确,能够准确及时反映工艺状况。
搜索关键词: 红外 分析 用待测 薄片 制备 方法 测定 fc ec et
【主权项】:
一种红外分析用待测薄片的制备方法,其特征在于,所述制备方法包括以下步骤:S1、将抗冲共聚物进行两次压片形成薄片;S2、将所述薄片在2~5min内冷却至室温形成所述待测薄片。
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