[发明专利]新三层膜结构的光掩膜及其制备方法有效
申请号: | 201210379702.6 | 申请日: | 2012-09-27 |
公开(公告)号: | CN103235480A | 公开(公告)日: | 2013-08-07 |
发明(设计)人: | 李弋舟;萧训山;徐根;李伟;颜春李 | 申请(专利权)人: | 湖南普照信息材料有限公司;湖南电子信息产业集团有限公司 |
主分类号: | G03F1/26 | 分类号: | G03F1/26;G03F1/46;B32B33/00;B32B9/04;B32B17/06 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 410013 湖*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种新三层膜结构的光掩膜及其制备方法,新三层膜结构的光掩膜包括玻璃基片、阻挡层、遮光膜层及减反射膜层,所述阻挡层、遮光膜层及减反射膜层三层膜中至少有一层含有碳成分;在制备方法上,提供一个或多个Cr靶材,通过真空磁控溅射方法将阻挡层、遮光膜层及减反射膜层依次镀在玻璃基片上。本发明不仅解决因钠离子扩散造成的“凹陷”问题,而且相对现有技术的三层膜结构,本新三层膜结构的光掩膜能够确保蚀刻时间及良好的刻蚀速率;在制备过程中只需提供一种Cr靶材。 | ||
搜索关键词: | 三层 膜结构 光掩膜 及其 制备 方法 | ||
【主权项】:
一种新三层膜结构的光掩膜,包括玻璃基片、阻挡层、遮光膜层及减反射膜层,所述阻挡层、遮光膜层及减反射膜层依次镀在所述玻璃基片上,其特征在于:所述阻挡层、遮光膜层及减反射膜层三层膜中至少有一层含有碳成分。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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