[发明专利]一种共焦扫描成像系统及其像差控制方法

摘要

公开了一种共焦扫描成像系统及其像差控制方法，所述成像系统包括双变形镜校正组件和自适应光学波前探测组件，所述光学波前探测组件基于直接斜率控制方法，并加入解耦算法优化所述直接斜率控制方法来消除所述双变形镜之间的耦合效应，由此来同步控制双变形镜校正组件工作；通过构造新的高阶变形镜响应矩阵和新的变形镜响应矩阵，去除了与低阶变形镜耦合部分，正确地控制变形镜闭环校正，消除piston、tip和tilt误差影响，得到双变形镜自适应光学系统准确的斜率矢量计算方法。该发明解决了双变形镜同时工作的困难，实现了一种设计紧凑、成像分辨率高的共焦扫描成像系统，大幅改善传统共焦扫描成像系统的成像质量，提高系统控制带宽。

主权项

一种共焦扫描成像系统的像差控制方法，所述共焦扫描成像系统包括光源组件、二维成像扫描组件、双变形镜校正组件、自适应光学波前探测组件、系统控制组件和探测器组件，所述探测器组件置于所述系统返回光路的终端，所述光源组件发射的照明光通过所述系统的所述二维成像扫描组件、所述双变形镜校正组件后进入人眼，从所述人眼反射回来的信号光原路返回，其中一部分所述信号光被所述探测器组件探测，另一部分所述信号光被所述自适应光学波前探测组件探测，其中通过所述自适应光学波前探测组件控制所述双变形镜校正组件来校正系统像差，其特征在于：所述光学波前探测组件基于直接斜率控制方法，并加入解耦算法优化所述直接斜率控制方法来消除所述双变形镜之间的耦合效应，由此来同步控制双变形镜校正组件工作，斜率计算方法如下：构造一个新的高阶变形镜响应矩阵，去除与低阶变形镜耦合部分，通过此响应矩阵可以正确地控制变形镜闭环校正；同时构造一个新的变形镜响应矩阵，消除piston、tip和tilt误差影响，得到双变形镜自适应光学系统准确的斜率矢量计算方法。