[发明专利]生产线及基板检查方法有效

专利信息
申请号: 201210352810.4 申请日: 2012-09-20
公开(公告)号: CN103025147B 公开(公告)日: 2017-03-01
发明(设计)人: 大池博史;稻垣光孝;小谷一也;池田觉 申请(专利权)人: 富士机械制造株式会社
主分类号: H05K13/08 分类号: H05K13/08;H05K13/04;H05K3/34
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司11219 代理人: 穆德骏,谢丽娜
地址: 日本爱知*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明提供能够适当地设定电子元件的检查坐标的生产线及基板检查方法。生产线(9)具备电子元件安装机(1a~1d),将电子元件(paM、paL、pbM、pbL、pcm、pdm)安装到基板(B)的预定的安装坐标上;和基板外观检查机(93),配置于电子元件安装机(1a~1d)的下游侧,参照与实际的安装坐标相关的安装信息来确定检查坐标,并在检查坐标上对电子元件(paM、paL、pbM、pbL、pcm、pdm)的安装状态进行检查。
搜索关键词: 生产线 检查 方法
【主权项】:
一种生产线,其特征在于,具备:电子元件安装机,将电子元件安装到基板的预定的安装坐标上;和基板外观检查机,配置于该电子元件安装机的下游侧,参照与实际的该安装坐标相关的安装信息来确定检查坐标,并在该检查坐标上对该电子元件的安装状态进行检查,所述安装信息包括与所述安装坐标的基准即安装基准相关的信息,设定多个所述安装基准,并按照各个安装基准来安装多个所述电子元件,所述基板外观检查机对各个所述电子元件分别确定所述检查坐标。
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