[发明专利]用于执行扫描测试的系统和方法

摘要

本发明公开涉及用于执行扫描测试的系统和方法。更具体而言，一种用于对集成电路执行扫描测试的系统包括旁路信号发生器和第一扫描旁路电路，所述集成电路诸如可被封装为不同封装类型并且具有被使能的不同特征的片上系统(SoC)。旁路信号发生器基于芯片封装信息生成第一旁路信号。第一旁路信号指示与所述SoC的第一非通用电路块关联的第一扫描链是否要被旁路。第一扫描链响应于第一旁路信号而被旁路。通过基于封装信息使能部分扫描测试，可以避免由确定SoC存在故障的全扫描测试导致的无意的产率损失。

主权项

1.一种用于对集成电路IC执行扫描测试和存储器内置自测试BIST的系统，所述系统包括：旁路信号发生器，所述旁路信号发生器基于芯片封装配置编码生成第一旁路信号，所述第一旁路信号指示与所述IC的第一非通用功能电路块关联的第一扫描链是否要被旁路；第一扫描旁路电路，所述第一扫描旁路电路连接到所述旁路信号发生器并且接收所述第一旁路信号，用以响应于所述第一旁路信号旁路所述第一扫描链；与所述IC的第一非通用存储器块关联的第一BIST控制器；以及第一BIST旁路电路，所述第一BIST旁路电路连接到所述旁路信号发生器并且接收所述第一旁路信号，用以响应于所述第一旁路信号将所述第一BIST控制器的输出门控关断。