[发明专利]PCIE总线设备存储空间性能测试方法在审
| 申请号： | 201210339764.4 | 申请日： | 2012-09-14 |
| 公开（公告）号： | CN103678055A | 公开（公告）日： | 2014-03-26 |
| 发明（设计）人： | 吴伟林;王亮;黄耀;姜维;陈春梅 | 申请（专利权）人： | 成都林海电子有限责任公司 |
| 主分类号： | G06F11/22 | 分类号： | G06F11/22 |
| 代理公司： | 四川力久律师事务所 51221 | 代理人： | 林辉轮;王芸 |
| 地址： | 611731 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种PCIE总线设备存储空间性能测试方法，该方法包括步骤：获取PCIE总线设备存储空间容量；根据PCIE总线设备存储空间容量，分配与PCIE总线设备存储空间容量一致的读数据缓冲区和写数据缓冲区；使用递增数据填充写数据缓冲区；将写数据缓冲区填充的数据写入PCIE总线设备存储空间；将PCIE总线设备存储空间写入的数据读取到读数据缓冲区；检查读数据缓冲区的数据与写数据缓冲区的数据是否相同，如果读数据缓冲区和写数据缓冲区中对应位置的对应数据相同，则PCIE总线设备存储空间正常工作，否则PCIE总线设备存储空间不能正常工作。本发明方法可覆盖存储空间的所有地址，高效地验证设备存储空间的正确性。 | ||
| 搜索关键词： | pcie 总线 设备 存储空间 性能 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种PCIE总线设备存储空间性能测试方法，其特征在于，该方法包括以下步骤：步骤1：获取PCIE总线设备存储空间容量；步骤2：根据PCIE总线设备存储空间容量，分配与PCIE总线设备存储空间容量一致的读数据缓冲区和写数据缓冲区；步骤3：向写数据缓冲区填充数据；步骤4：将写数据缓冲区填充的数据写入PCIE总线设备存储空间；步骤5：将PCIE总线设备存储空间写入的数据读取到读数据缓冲区；步骤6：检查读数据缓冲区的数据与写数据缓冲区的数据是否相同，如果读数据缓冲区和写数据缓冲区中对应位置的对应数据相同，则PCIE总线设备存储空间正常工作，否则PCIE总线设备存储空间不能正常工作。
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