[发明专利]一种TFT-LCD阵列基板及其测试方法

摘要

本发明公开了一种TFT-LCD阵列基板，包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域，所述显示区内设置有栅线和数据线，所述外围区域内设置有：第一测试短棒，其上设置有多条测试线，用于分别向显示区中各数据线发送数据测试信号；第二测试短棒，其上设置有栅线测试线，用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；在所述至少一条第一测试短棒的数据测试线与显示区的一条数据线连接处，或在第二测试短棒的栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设置有包含有第一连接层和第二连接层的连接装置。本发明还公开了相应的测试方法。实施本发明的实施例，可以实现对TFT-LCD阵列基板进行两次测试。

主权项

一种TFT‑LCD阵列基板，包括显示区和位于所述显示区外围的外围区域，所述显示区内设置有栅线和数据线，其特征在于，所述外围区域内设置有：第一测试短棒，其上设置有多条测试线，用于分别向显示区中各数据线发送数据测试信号；第二测试短棒，其上设置有栅线测试线，用于向显示区中各栅线发送栅线测试信号；在所述第一测试短棒的数据测试线与显示区的一条数据线连接处，或在第二测试短棒的栅线测试线与显示区的至少一条栅线连接处设置有包含有第一连接层和第二连接层的连接装置；其中，所述连接装置包括：第一连接层，其一端连接所述数据测试线或栅线测试线，另一端连接对应的数据线或栅线；第二连接层，设置在所述第一连接层下面，至少部分与所述第一连接层位置重叠；绝缘层，设置在所述第一连接层与所述第二连接层之间；保护层，设置在所述第一连接层上面。