[发明专利]测定铁‐碳水化合物络合物浊点和游离糖缓冲系数的方法的应用有效

专利信息
申请号: 201210321353.2 申请日: 2009-12-09
公开(公告)号: CN102798703A 公开(公告)日: 2012-11-28
发明(设计)人: 方文;花传政;杨洁;何国新;熊守军 申请(专利权)人: 南京生命能科技开发有限公司
主分类号: G01N33/15 分类号: G01N33/15
代理公司: 南京天华专利代理有限责任公司 32218 代理人: 徐冬涛;傅婷婷
地址: 江苏省南*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及测定铁-碳水化合物络合物浊点和游离糖缓冲系数的方法的应用。测定铁-碳水化合物络合物浊点和游离糖缓冲系数的方法包括下述步骤:⑴使络合物与酸接触;⑵测定络合物的酸降解过程中的氢离子浓度和溶液浊度;⑶将这些数据进行数学拟合,经过数学处理测得络合物的浊点和碳水化合物游离系数。若上述所求的浊点值在4.4-5.3之间并且游离糖缓冲系数大于2.5,则表明该铁-碳水化合物络合物具有良好的安全性。本发明首次利用仪器测定结合数学拟合的方法成功测定了铁-碳水化合物络合物的浊点,提出并测定了铁-碳水化合物络合物的游离糖缓冲系数,并利用二者建立了评价铁-碳水化合物络合物安全性的方法。
搜索关键词: 测定 碳水化合物 络合物 游离 缓冲 系数 方法 应用
【主权项】:
一种测定铁‑碳水化合物络合物浊点和游离糖缓冲系数的方法在评价铁-碳水化合物络合物安全性方面的应用,其特征在于该方法包括下述步骤:⑴使铁‑碳水化合物络合物与酸接触;⑵通过pH仪和浊度仪测定有限点的氢离子浓度和溶液浊度N;⑶将测得的浊度值和氢离子浓度值带入方程K=N/[H+]n,方程两边取同底的对数,得到拟合方程logmN=nlogm[H+]+logmK中的所有系数,其中包括铁-碳水化合物络合物游离糖缓冲系数n;对拟合出的方程进行割线法或切线法处理求得铁‑碳水化合物络合物的浊点;或者包括下述步骤:⑴使铁‑碳水化合物络合物与酸接触;⑵通过pH仪和浊度仪测定有限点的氢离子浓度和溶液浊度N;⑶将测得的浊度值取以十为底的对数,并对该对数值和相应的pH做最小二乘拟合,得到拟合方程lgN=‑npH+lgK中的所有系数,其中包括铁-碳水化合物络合物游离糖缓冲系数n;对拟合出的方程进行割线法或切线法处理求得铁‑碳水化合物络合物的浊点。
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