[发明专利]RFID评估系统、目标位置指示装置和目标位置指示程序有效
申请号: | 201210308810.4 | 申请日: | 2012-08-27 |
公开(公告)号: | CN103279772A | 公开(公告)日: | 2013-09-04 |
发明(设计)人: | 今村纯;川濑勉 | 申请(专利权)人: | 株式会社理光 |
主分类号: | G06K17/00 | 分类号: | G06K17/00;G01R29/08 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾贤伟;杨继平 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 公开了RFID评估系统、目标位置指示装置和目标位置指示程序。一种用于评估RFID系统的RFID评估系统包括:标签位置和姿态改变单元,其接受来自操作者的手动操作以改变RFID标签的位置,并自动改变所述RFID标签的姿态;天线单元,其将用于测试的无线电信号发送到所述RFID标签,并接收从所述RFID标签发送的无线电信号;控制单元,其针对所述RFID标签的位置和姿态的每个组合,控制所述天线单元来测量所述RFID标签的响应无线电波强度,其中所述控制单元包括测量所述RFID标签的位置的位置测量单元;以及信息提供单元,其提供用于将所述RFID标签移动到所述目标位置的信息。 | ||
搜索关键词: | rfid 评估 系统 目标 位置 指示 装置 程序 | ||
【主权项】:
一种RFID评估系统,用于评估RFID系统,所述RFID评估系统包括:标签位置和姿态改变单元,用于接受来自操作者的手动操作以改变RFID标签的位置,并自动改变所述RFID标签的姿态;天线单元,用于将用于测试的无线电信号发送到所述RFID标签,并接收从所述RFID标签发送的无线电信号;以及控制单元,用于针对所述RFID标签的位置和姿态的每个组合,控制所述天线单元来测量所述RFID标签的响应无线电波强度,其中所述控制单元包括测量所述RFID标签的位置的位置测量单元;以及信息提供单元,用于提供将所述RFID标签移动到所述目标位置的信息。
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