[发明专利]位置检测器有效

专利信息
申请号: 201210269981.0 申请日: 2012-07-31
公开(公告)号: CN102914255A 公开(公告)日: 2013-02-06
发明(设计)人: 原哲也;河野祯之;清水泰;久保田贵光 申请(专利权)人: 株式会社电装
主分类号: G01B7/30 分类号: G01B7/30
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 张伟;王英
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 永磁体(20)被固定到固定部分(80)。由磁性材料制成的磁轭(11)被设置到旋转部分(90)。磁轭是管状的以围绕永磁体,并且磁轭具有弦部(111),由永磁体(20)产生的磁通优先进入该弦部(111)。对弦部(111)进行布置以致其靠近永磁体(20)。霍尔元件(31)相对于永磁体(20)被布置在固定部分(80)的特定位置。霍尔元件(31)输出信号,该信号与弦部(111)和永磁体(20)之间产生的磁通的密度和角度相对应。
搜索关键词: 位置 检测器
【主权项】:
一种用于对检测对象(61、90)的位置进行检测的位置检测器,包括:固定部分(80);磁通产生部分(20),其被设置到所述检测对象和所述固定部分中的一个上;磁轭(11、12、13、14、15),其被设置到所述检测对象和所述固定部分中的另一个上,所述磁轭由磁性材料制成并且被形成为围绕所述磁通产生部分(20)的管状,所述磁轭具有磁通引入部分(111、121、131、141、151),所述磁通引入部分靠近所述磁通产生部分(20)以使得由所述磁通产生部分产生的磁通优先流入到所述磁通引入部分中;以及磁检测部分(30),其被布置在相对于所述磁通产生部分(20)的特定位置处,所述磁检测部分输出信号,所述信号与所述磁通引入部分和所述磁通产生部分之间产生的磁通密度和磁通角度相对应。
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