[发明专利]一种三维集成电路结构的制作方法和三维集成电路结构有效

专利信息
申请号: 201210261929.0 申请日: 2012-07-26
公开(公告)号: CN103579087A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 凌龙 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/768 分类号: H01L21/768;H01L21/98;H01L25/065
代理公司: 北京市磐华律师事务所 11336 代理人: 高伟;付伟佳
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种三维集成电路结构的制作方法和三维集成电路结构。该方法包括:提供基底;在基底上形成第一芯片介电层,在第一芯片介电层中形成第一芯片凹槽,在第一芯片凹槽中嵌入第一芯片;在第一芯片介电层上形成第一通孔介电层,在第一通孔介电层内形成第一导电通孔和第一导电沟槽;在第一通孔介电层上形成第二芯片介电层,在第二芯片介电层中形成第二芯片凹槽,在第二芯片凹槽中嵌入第二芯片;在第二芯片介电层上形成第二通孔介电层,在第二通孔介电层内形成第二导电通孔、在第二芯片介电层和第二通孔介电层内形成第三导电通孔,在第二通孔介电层内形成第二导电沟槽。该制作方法能够降低三维集成电路结构的制作成本。
搜索关键词: 一种 三维集成电路 结构 制作方法
【主权项】:
一种三维集成电路结构的制作方法,其特征在于,包括:步骤A,提供基底;步骤B,在所述基底上形成第一芯片介电层,在所述第一芯片介电层中形成第一芯片凹槽,在所述第一芯片凹槽中嵌入第一芯片,所述第一芯片的上表面具有第一焊垫;步骤C,在所述第一芯片介电层上形成第一通孔介电层,在所述第一通孔介电层内形成第一导电通孔和第一导电沟槽,其中所述第一导电通孔与所述第一焊垫电连接,所述第一导电沟槽位于所述第一通孔介电层的上表面;步骤D,在所述第一通孔介电层上形成第二芯片介电层,在所述第二芯片介电层中形成第二芯片凹槽,在所述第二芯片凹槽中嵌入第二芯片,所述第二芯片的上表面具有第二焊垫;以及步骤E,在所述第二芯片介电层上形成第二通孔介电层,在所述第二通孔介电层内形成第二导电通孔、在所述第二芯片介电层和所述第二通孔介电层内形成第三导电通孔,在所述第二通孔介电层内形成第二导电沟槽,其中所述第二导电通孔与所述第二焊垫电连接,所述第三导电通孔与所述第一导电沟槽电连接。
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