[发明专利]等离子体包覆材料的雷达反射特性测量装置及方法有效
| 申请号： | 201210257142.7 | 申请日： | 2012-07-24 |
| 公开（公告）号： | CN102809577A | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | 谢楷;赵良;秦永强;李小平;刘彦明;刘东林 | 申请（专利权）人： | 西安电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N23/20 | 分类号： | G01N23/20;G01N22/00;G01N21/00;G01N1/28 |
| 代理公司： | 西安吉盛专利代理有限责任公司 61108 | 代理人： | 张培勋 |
| 地址： | 710071 陕西省*** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种等离子体包覆材料的雷达反射特性测量装置及方法，该装置包括：大面积匀非磁化等离子体产生单元、雷达散射截面测量机构、微波暗室、支撑导轨、支撑滑块、被测材料板、吸波材料，大面积均匀非磁化等离子体产生单元、雷达散射截面测量机构固定在微波暗室内，大面积均匀非磁化等离子体产生单元由吸波材料包围在一个空间内，吸波材料有一个窗口，使大面积均匀非磁化等离子体产生单元的被测材料板直面雷达散射截面测量机构。它是一种能够在被测材料表面包覆等离子，并进一步实现等离子厚度可调以及削弱本体的雷达回波反射，从而满足开展等离子包覆材料的雷达反射特性实验测量的装置及方法。 | ||
| 搜索关键词： | 等离子体 材料 雷达 反射 特性 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
等离子体包覆材料的雷达反射特性测量装置，其特征是：包括：大面积匀非磁化等离子体产生单元（1）、雷达散射截面测量机构（2）、微波暗室（3）、支撑导轨（4）、支撑滑块（5）、被测材料板（6）、吸波材料（8），大面积均匀非磁化等离子体产生单元（1）、雷达散射截面测量机构（2）固定在微波暗室（3）内，大面积均匀非磁化等离子体产生单元（1）由吸波材料（8）包围在一个空间内，吸波材料（8）有一个窗口，使大面积均匀非磁化等离子体产生单元（1）的被测材料板（6）直面雷达散射截面测量机构（2）。
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