[发明专利]一种可变电容及其制作方法无效
申请号: | 201210256999.7 | 申请日: | 2012-07-23 |
公开(公告)号: | CN103094360A | 公开(公告)日: | 2013-05-08 |
发明(设计)人: | 靳纯艳;王金延;方敏;张波;王茂俊;于民;解冰;吴文刚 | 申请(专利权)人: | 北京大学 |
主分类号: | H01L29/92 | 分类号: | H01L29/92;H01L21/334 |
代理公司: | 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 | 代理人: | 余长江 |
地址: | 100871 北*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种可变电容及其制作方法。该可变电容包括依次排列的高阻GaN层、高迁移率GaN层、AlGaN势垒层和金属层。该方法包括:在衬底上生长缓冲层;在缓冲层上依次生长高阻GaN层和高迁移率GaN层;在高迁移率GaN层上生长AlGaN势垒层;在AlGaN势垒层上采用ICP-RIE方法刻蚀隔离岛;然后涂光刻胶,进行光刻、曝光并显影,形成肖特基电极图形;再通过电子束蒸发一金属层,将光刻胶剥离后形成可变电容。利用本发明,可在GaN基上实现与高电子迁移率晶体管HEMT工艺兼容的可变电容,对于实现LNAs、VCOs以及混频器等电路有重要意义。 | ||
搜索关键词: | 一种 可变电容 及其 制作方法 | ||
【主权项】:
一种可变电容,其特征在于,包括依次排列的高阻GaN层、高迁移率GaN层、AlGaN势垒层和金属层。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京大学,未经北京大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210256999.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类