[发明专利]一种可变电容及其制作方法无效

专利信息
申请号: 201210256999.7 申请日: 2012-07-23
公开(公告)号: CN103094360A 公开(公告)日: 2013-05-08
发明(设计)人: 靳纯艳;王金延;方敏;张波;王茂俊;于民;解冰;吴文刚 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L29/92 分类号: H01L29/92;H01L21/334
代理公司: 北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙) 11200 代理人: 余长江
地址: 100871 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种可变电容及其制作方法。该可变电容包括依次排列的高阻GaN层、高迁移率GaN层、AlGaN势垒层和金属层。该方法包括:在衬底上生长缓冲层;在缓冲层上依次生长高阻GaN层和高迁移率GaN层;在高迁移率GaN层上生长AlGaN势垒层;在AlGaN势垒层上采用ICP-RIE方法刻蚀隔离岛;然后涂光刻胶,进行光刻、曝光并显影,形成肖特基电极图形;再通过电子束蒸发一金属层,将光刻胶剥离后形成可变电容。利用本发明,可在GaN基上实现与高电子迁移率晶体管HEMT工艺兼容的可变电容,对于实现LNAs、VCOs以及混频器等电路有重要意义。
搜索关键词: 一种 可变电容 及其 制作方法
【主权项】:
一种可变电容,其特征在于,包括依次排列的高阻GaN层、高迁移率GaN层、AlGaN势垒层和金属层。
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