[发明专利]一种光谱分析方法和设备有效

专利信息
申请号: 201210256660.7 申请日: 2012-07-23
公开(公告)号: CN103575394A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 张强;申屠国樑 申请(专利权)人: 张强;申屠国樑
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/02;G01J9/00;G01N21/25
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 201315 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明实施例公开了一种光谱分析方法和设备,方法包括:步骤A:将待侧信号光和泵浦光进行波分复用处理后,进行非线性和频作用输出可见光,所述待测信号光、所述泵浦光和所述可见光具备相位匹配关系;步骤B:将所述可见光经过滤后获得高纯度可见光;步骤C:利用单光子探测器对所述高纯度可见光进行探测,并利用计数器对所述可见光的光子数进行计数;调节所述泵浦光的波长,在所述可见光的光子数达到最大值时,依当前泵浦光的波长与所述待测信号光的波长一一对应关系,获取待测信号光波长;步骤D:根据所述待测信号光的波长与由所述可见光的光子数获得的所述待测信号光的强度得到所述待测信号光的原始光谱。实现微弱或连续待测信号光波长检测。
搜索关键词: 一种 光谱分析 方法 设备
【主权项】:
一种光谱分析方法,其特征在于,包括:步骤A:将待侧信号光和泵浦光进行波分复用处理后,进行非线性和频作用输出可见光,所述待测信号光、所述泵浦光和所述可见光具备相位匹配关系;步骤B:将所述可见光经过滤后获得高纯度可见光;步骤C:利用单光子探测器对所述高纯度可见光进行探测,并利用计数器对所述可见光的光子数进行计数;调节所述泵浦光的波长,在所述可见光的光子数达到最大值时,根据当前泵浦光的波长与所述待测信号光的波长一一对应关系,获取待测信号光波长;步骤D:根据所述待测信号光的波长与由所述可见光的光子数获得的所述待测信号光的强度,得到所述待测信号光的原始光谱。
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