[发明专利]一种原位氧化提高硅纳米线阵列场发射性能的方法有效
申请号: | 201210256049.4 | 申请日: | 2012-07-24 |
公开(公告)号: | CN102856141A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 杨亚军;刘宪云;蒋美萍;谢建生;吉高峰;曹先胜 | 申请(专利权)人: | 常州大学 |
主分类号: | H01J9/02 | 分类号: | H01J9/02;H01J1/304;B82Y40/00 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 | 代理人: | 楼高潮 |
地址: | 213164 江苏*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及用于场发射材料的一维纳米材料,特指一种原位氧化提高硅纳米线阵列场发射性能的方法。本发明的技术方案是采用无电化学腐蚀法制备Si纳米线阵列,然后采用原位部分氧化法将Si纳米线阵列转化为SiOx包覆的Si纳米线芯壳结构阵列,由于SiOx具有较低的电子亲和势(0.6-0.8eV),所以可有效增强Si纳米线阵列的场发射性能,而且SiOx还可作为Si纳米线阵列的保护层,提高Si纳米线阵列的场发射稳定性。 | ||
搜索关键词: | 一种 原位 氧化 提高 纳米 阵列 发射 性能 方法 | ||
【主权项】:
一种原位氧化提高硅纳米线阵列场发射性能的方法,包括如下步骤:1)选用单晶硅片,分别用丙酮、乙醇和去离子水超声清洗,去除表面杂质;2)用HF和 AgNO3按比例配制腐蚀液,并装入聚四氟乙烯瓶内,将硅片浸没在腐蚀液中,然后将聚四氟乙烯瓶放入烘箱内恒温加热;3)腐蚀结束后将硅片取出,用去离子水清洗,用HNO3浸泡硅片,用于去除硅片表面包覆的 Ag,在硅片表面得到 Si纳米线阵列;4)将硅片放入陶瓷舟内,然后将陶瓷舟放入水平管式炉中心温区处,通入氧气,并升温加热,Si纳米线阵列表面形成一层氧化层,Si纳米线阵列转化为SiOx包覆的Si纳米线芯壳结构阵列。
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