[发明专利]一种原位氧化提高硅纳米线阵列场发射性能的方法有效

专利信息
申请号: 201210256049.4 申请日: 2012-07-24
公开(公告)号: CN102856141A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 杨亚军;刘宪云;蒋美萍;谢建生;吉高峰;曹先胜 申请(专利权)人: 常州大学
主分类号: H01J9/02 分类号: H01J9/02;H01J1/304;B82Y40/00
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 32200 代理人: 楼高潮
地址: 213164 江苏*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及用于场发射材料的一维纳米材料,特指一种原位氧化提高硅纳米线阵列场发射性能的方法。本发明的技术方案是采用无电化学腐蚀法制备Si纳米线阵列,然后采用原位部分氧化法将Si纳米线阵列转化为SiOx包覆的Si纳米线芯壳结构阵列,由于SiOx具有较低的电子亲和势(0.6-0.8eV),所以可有效增强Si纳米线阵列的场发射性能,而且SiOx还可作为Si纳米线阵列的保护层,提高Si纳米线阵列的场发射稳定性。
搜索关键词: 一种 原位 氧化 提高 纳米 阵列 发射 性能 方法
【主权项】:
一种原位氧化提高硅纳米线阵列场发射性能的方法,包括如下步骤:1)选用单晶硅片,分别用丙酮、乙醇和去离子水超声清洗,去除表面杂质;2)用HF和 AgNO3按比例配制腐蚀液,并装入聚四氟乙烯瓶内,将硅片浸没在腐蚀液中,然后将聚四氟乙烯瓶放入烘箱内恒温加热;3)腐蚀结束后将硅片取出,用去离子水清洗,用HNO3浸泡硅片,用于去除硅片表面包覆的 Ag,在硅片表面得到 Si纳米线阵列;4)将硅片放入陶瓷舟内,然后将陶瓷舟放入水平管式炉中心温区处,通入氧气,并升温加热,Si纳米线阵列表面形成一层氧化层,Si纳米线阵列转化为SiOx包覆的Si纳米线芯壳结构阵列。
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