[发明专利]一种极紫外光刻投影物镜的优化设计方法有效

专利信息
申请号: 201210243219.5 申请日: 2012-07-13
公开(公告)号: CN102768473A 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: 李艳秋;刘菲 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G02B17/08
代理公司: 北京理工大学专利中心 11120 代理人: 李爱英;杨志兵
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种极紫外光刻投影物镜的优化设计方法,具体优化过程为:对投影物镜是否具有可优化的潜力进行判断,当判定其具有可优化潜力时,则设定优化的边界条件,该边界条件包括远心限制、非球面度限制、间距限制和各镜片无遮拦空间的限制;设定投影物镜可优化变量;运用阻尼最小二乘法,在边界条件内对投影物镜的可优化变量进行优化,直至在设定的边界条件内,投影物镜可达到的理想像方数值孔且出摄像满足要求为止。本发明通过设定包括不遮拦空间等优化边界条件,对投影物镜的参数进行优化,这样可以使得优化后的投影物镜满足用户的需求,且不对光线产生遮拦。
搜索关键词: 一种 紫外 光刻 投影 物镜 优化 设计 方法
【主权项】:
一种极紫外光刻投影物镜的优化设计方法,该极紫外光刻投影物镜包括六枚反射镜,从掩模开始,沿光路方向依次为第一反射镜M1,第二反射镜M2,第三反射镜M3,第四反射镜M4,第五反射镜M5,第六反射镜M6,硅片;其特征在于,所述极紫外光刻投影物镜的具体优化设计过程为:步骤101、设定投影物镜像方数值孔径为NA1;判断第五反射镜M5和第六反射镜M6的光路遮拦情况,判断投影物镜的后工作距情况;当判定第五枚反射镜上部和第六枚反射镜下部的遮拦比皆等于0且(WDI‑WDIP)/WDI≤5%时,则进入步骤102,否则结束本优化方法,其中NA1为投影物镜理想像方数值孔径,WDI为事先给定的优化后的目标工作距,WDIP为第五枚反射镜的顶点至近轴像点的距离;步骤102、计算当前投影物镜上的6个遮拦空间CLEAPENA116,给当前投影物镜的像方数值孔径NA3赋一初始值,并进入步骤103;步骤103、计算当前投影物镜上的6个遮拦空间CLEAPENA316,并根据步骤102中计算的遮拦空间CLEAPENA11~6,设定无遮挡空间的限制条件为CLEAPEcon1‑6: CLEAPE con n = CLEAPE NA 3 n × ( 1 + 5 % ) CLEAPE NA 1 n > 0 CLEAPE con n = CLEAPE NA 3 n CLEAPE NA 1 n = 0 其中n为1至6的正整数;步骤104、设定边界条件包括远心限制、非球面度限制、间距限制和步骤103中确定的各镜片无遮拦空间的限制CLEAPEcon1‑6;远心限制定义为:像方主光线与光轴的夹角处于用户设定的范围内;非球面限制定义为:非球面度应处于用户给定的范围内;间距限制定义为:后工作距处于用户给定的范围内,方向相背的两反射镜顶点之间距离处于所给定的范围内;步骤105、设定投影物镜可优化变量;运用阻尼最小二乘法,在边界条件内对投影物镜的可优化变量进行优化,获取投影物镜出射像;并进行如下两次判断:第一、判断出射像子午面上四个视场的平均均方根波像差值是否小于0.04λ,第二、判断此时像方数值孔径NA3=NA1是否成立;如果第一和第二个判断皆成立,则将此时获得的投影物镜参数作为最优参数,结束对光刻投影物镜的优化;如果第一个判断成立且第二个判断不成立了,则令NA3增加0.01,返回步骤103如果第一个判断不成立,则再运用阻尼最小二乘法进行优化,直至满足上述两个条件为止。
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