[发明专利]相对角度检测装置及相对角度检测装置的制造方法有效

专利信息
申请号: 201210200264.2 申请日: 2012-06-14
公开(公告)号: CN103048073A 公开(公告)日: 2013-04-17
发明(设计)人: 武藤宽之 申请(专利权)人: 株式会社昭和
主分类号: G01L3/10 分类号: G01L3/10
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;黄纶伟
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供相对角度检测装置及相对角度检测装置的制造方法,提供具有降低了制造中使用的材料量的软磁性体的装置。检测两个旋转轴的相对角度的相对角度检测装置具备:磁铁(22),其设于作为两个旋转轴中的一个旋转轴的第1旋转轴(120);磁轭(30),其以处于由磁铁(22)形成的磁场内的方式设于作为两个旋转轴中的另一个旋转轴的第2旋转轴(130),与磁铁(22)一起形成磁回路;以及磁传感器(40),其检测磁回路的磁通密度,磁轭(30)是使用混合了磁性粉末和合成树脂的材料注射成型的。
搜索关键词: 相对 角度 检测 装置 制造 方法
【主权项】:
一种检测两个旋转轴的相对角度的相对角度检测装置,其特征在于,该相对角度检测装置具备:硬磁性体,其设于所述两个旋转轴中的一个旋转轴;软磁性体,其以处于由所述硬磁性体形成的磁场内的方式设于所述两个旋转轴中的另一个旋转轴,与该硬磁性体一起形成磁回路;以及检测单元,其检测所述磁回路的磁通密度,所述软磁性体是使用混合了磁性粉末和合成树脂的材料注射成型的。
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